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龍圖騰網恭喜均豪精密工業股份有限公司申請的專利檢測設備及其收光裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114252238B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202011014413.7，技術領域涉及：G01M11/02；該發明授權檢測設備及其收光裝置是由李茂杉;張伯墉;張凱宇設計研發完成，并于2020-09-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本檢測設備及其收光裝置在說明書摘要公布了：本發明公開一種檢測設備及其收光裝置，所述收光裝置包含一遠心透鏡組、一圖像處理模塊、及一演算模塊。所述遠心透鏡組包含有一入光端與一出光端，并用來引導多個發光芯片所發出且自所述入光端穿入其內的多道第一光線，自所述出光端穿出且形成較小發散角度的多道第二光線。所述圖像處理模塊設置于所述遠心透鏡組的所述出光端，用來接收并處理自所述出光端穿出的每道所述第二光線，以計算出相對應的所述發光芯片的RGB灰階值。所述演算模塊電性耦接于所述圖像處理模塊，用來接收每個所述發光芯片的所述RGB灰階值并演算出每個發光芯片的光參數。據此，所述收光裝置通過設置有所述遠心透鏡組，以得知每個所述發光芯片的光參數。

本發明授權檢測設備及其收光裝置在權利要求書中公布了：1.一種檢測設備，其特征在于，所述檢測設備包括：一電性檢測裝置，包含：一探針卡；一光學對位模塊，其位置對應于所述探針卡；一透光載盤，其位置與所述探針卡相對應，并且所述透光載盤具有用來承載多個發光芯片的一承載面與位于所述承載面相反側的一出光面；其中，所述探針卡能通過所述光學對位模塊的對位后，而用來同時供電且電性檢測所述透光載盤上的多個所述發光芯片，以使每個所述發光芯片朝向所述出光面發出具有第一發散角度的一第一光線；以及一收光裝置，其鄰近地設置于所述透光載盤的所述出光面，并且所述收光裝置包含有：一遠心透鏡組，其包含有一入光端及一出光端；其中，所述遠心透鏡組用來引導由所述出光面穿出而自所述入光端穿入其內的多道所述第一光線，并使多道所述第一光線自所述出光端穿出且形成多道第二光線；其中，每道所述第二光線的第二發散角度小于相對應所述第一光線的所述第一發散角度；一圖像處理模塊，其設置于所述遠心透鏡組的所述出光端，用來接收并處理自所述出光端穿出的每道所述第二光線，以計算出相對應的所述發光芯片的RGB灰階值；及一演算模塊，其電性耦接于所述圖像處理模塊，用來接收每個所述發光芯片的所述RGB灰階值并演算出每個所述發光芯片的光參數。

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