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龍圖騰網恭喜華為技術有限公司申請的專利芯片測試電路及電路測試方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115443413B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202080100077.X，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權芯片測試電路及電路測試方法是由崔昌明;黃俊林;黃宇;付海濤設計研發完成，并于2020-08-31向國家知識產權局提交的專利申請。

本芯片測試電路及電路測試方法在說明書摘要公布了：一種芯片測試電路及電路測試方法，可用于EDA軟件中對芯片電路進行測試，用于解決目前的測試方案中的繞線擁塞和測試配置復雜的問題。該測試電路將測試向量的輸入數據通過測試總線的輸入傳輸至數據分發電路301中，通過數據分發電路301傳輸至被測電路01的掃描輸入通道，被測電路01掃描結束后，被測電路01的掃描輸出通道的測試向量的輸出數據通過數據分發電路301傳輸至測試總線的輸出完成被測電路01的測試，通過對第一選擇器302的配置實現數據分發電路301與測試總線02的動態對應關系，使得測試資源能夠得以動態分配，極大程度地優化了繞線擁塞的問題，以便降低測試成本，并且可以簡化配置過程，從而提高測試效率。

本發明授權芯片測試電路及電路測試方法在權利要求書中公布了：1.一種測試電路，其特征在于，包括：與多個被測電路分別對應的多個子測試電路，所述多個子測試電路用于分別將對應的被測電路連接在測試總線上；所述多個子測試電路中第j個子測試電路包括Nj個數據分發電路和M個第一選擇器，其中，Nj和M均為正整數，M等于所述測試總線的位寬，并且M大于或等于Nj；所述第j個子測試電路為所述多個子測試電路中的任意一個子測試電路；在第j個所述子測試電路中，所述Nj個數據分發電路的第一輸入端，分別與所述測試總線的Nj個輸入連接，所述Nj個數據分發電路的第一輸出端，與第j個子測試電路對應的所述被測電路的掃描輸入通道連接，所述Nj個數據分發電路的第二輸入端，與第j個子測試電路對應的所述被測電路的掃描輸出通道連接；在第j個所述子測試電路中，所述M個第一選擇器的輸出端分別連接所述測試總線的M個輸出；所述M個第一選擇器中的Nj個所述第一選擇器的第一輸入端，分別連接Nj個所述數據分發電路的第二輸出端，其余的M-Nj個所述第一選擇器的第一輸入端，分別連接M-Nj個未設置所述數據分發電路的所述測試總線的輸入；所述M個第一選擇器中的Nj個所述第一選擇器的第二輸入端，分別連接Nj個所述數據分發電路的第二輸出端，其余的M-Nj個所述第一選擇器的第二輸入端，分別連接M-Nj個未設置所述數據分發電路的所述測試總線的輸入；每個所述第一選擇器的第一輸入端和第二輸入端連接的所述測試總線不同。

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