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龍圖騰網恭喜合肥晶合集成電路股份有限公司申請的專利像素單元及驅動方法、圖像傳感器獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119562624B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202510112496.X，技術領域涉及：H10F39/18；該發(fā)明授權像素單元及驅動方法、圖像傳感器是由康紹磊;汪凱倫設計研發(fā)完成，并于2025-01-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本像素單元及驅動方法、圖像傳感器在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種像素單元及驅動方法、圖像傳感器，所述像素單元包括：P型摻雜區(qū)、位于P型摻雜區(qū)內的光電二極管區(qū)與浮置擴散區(qū)、與浮置擴散區(qū)連接的傳輸晶體管、復位晶體管、源跟隨器晶體管和行選擇晶體管；其中，在光電二極管區(qū)遠離浮置擴散區(qū)一側的P型摻雜區(qū)內形成有第一N型摻雜區(qū)，且第一N摻雜區(qū)與光電二極管區(qū)之間間隔有P型摻雜區(qū)，第一N摻雜區(qū)、P型摻雜區(qū)以及光電二極管區(qū)形成寄生NPN三極管。本發(fā)明通過控制第一N型摻雜區(qū)電位讓寄生NPN三極管處于放大狀態(tài)，實現(xiàn)給光電二極管區(qū)充電的目的，避免了通過曝光給光電二極管充電的操作，能夠在常規(guī)的WAT測試機臺上進行光電性能測試，解決了光電測試與常規(guī)WAT測試設備不兼容的問題。

本發(fā)明授權像素單元及驅動方法、圖像傳感器在權利要求書中公布了：1.一種像素單元，其特征在于，包括：P型摻雜區(qū)、位于所述P型摻雜區(qū)內的光電二極管區(qū)與浮置擴散區(qū)、與所述浮置擴散區(qū)連接的傳輸晶體管、復位晶體管、源跟隨器晶體管和行選擇晶體管；其中，在所述光電二極管區(qū)遠離所述浮置擴散區(qū)一側的所述P型摻雜區(qū)內形成有第一N型摻雜區(qū)，且所述第一N型摻雜區(qū)與所述光電二極管區(qū)之間間隔有所述P型摻雜區(qū)，所述第一N型摻雜區(qū)、所述P型摻雜區(qū)以及所述光電二極管區(qū)形成寄生NPN三極管；所述第一N型摻雜區(qū)與所述光電二極管區(qū)之間的間距大于所述光電二極管區(qū)與所述P型摻雜區(qū)構成的集電結反偏時所述P型摻雜區(qū)內的耗盡區(qū)的寬度。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯(lián)系本專利的申請人或專利權人合肥晶合集成電路股份有限公司，其通訊地址為：230012 安徽省合肥市新站區(qū)合肥綜合保稅區(qū)內西淝河路88號；或者聯(lián)系龍圖騰網官方客服，聯(lián)系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。