恭喜季華實驗室鐘浩龍獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜季華實驗室申請的專利剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的設(shè)計方法、微觀結(jié)構(gòu)、剪切帶及輪胎獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115206464B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210765110.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G16C60/00;該發(fā)明授權(quán)剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的設(shè)計方法、微觀結(jié)構(gòu)、剪切帶及輪胎是由鐘浩龍;楊江林;徐婷設(shè)計研發(fā)完成,并于2022-07-01向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的設(shè)計方法、微觀結(jié)構(gòu)、剪切帶及輪胎在說明書摘要公布了:本公開涉及剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的設(shè)計方法、微觀結(jié)構(gòu)、剪切帶及輪胎,該方法包括:定義設(shè)計區(qū)域和確定設(shè)計變量;設(shè)計區(qū)域為剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的最小周期單元;設(shè)計變量為設(shè)計區(qū)域中的填充材料;構(gòu)建設(shè)計區(qū)域的材料矩陣,確定目標函數(shù);對設(shè)計區(qū)域進行有限元分析,計算等效彈性模量;基于等效彈性模量,計算設(shè)計區(qū)域中每個網(wǎng)格的靈敏度;基于靈敏度,更新設(shè)計變量;計算更新設(shè)計變量后的目標函數(shù)的目標值,判斷目標值是否滿足收斂條件;滿足收斂條件時,將設(shè)計區(qū)域作為剪切帶微觀結(jié)構(gòu)輸出;不滿足收斂條件時,返回執(zhí)行對設(shè)計區(qū)域進行有限元分析,計算設(shè)計區(qū)域的等效彈性模量的步驟。該方法獲得的剪切帶微觀結(jié)構(gòu)應(yīng)用于剪切帶,可提高非充氣輪胎的承載能力。
本發(fā)明授權(quán)剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的設(shè)計方法、微觀結(jié)構(gòu)、剪切帶及輪胎在權(quán)利要求書中公布了:1.一種剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的設(shè)計方法,其特征在于,包括:定義設(shè)計區(qū)域和確定設(shè)計變量;其中,所述設(shè)計區(qū)域為剪切帶微觀結(jié)構(gòu)的最小周期單元,所述設(shè)計區(qū)域包括N個網(wǎng)格,N為正整數(shù);所述設(shè)計變量為所述設(shè)計區(qū)域中的填充材料;構(gòu)建所述設(shè)計區(qū)域的材料矩陣,確定所述設(shè)計區(qū)域的目標函數(shù);對所述設(shè)計區(qū)域進行有限元分析,采用如下公式計算所述設(shè)計區(qū)域的等效彈性模量: Ku=∫YBTEdY; 基于所述設(shè)計區(qū)域的等效彈性模量,采用如下公式計算所述設(shè)計區(qū)域中每個網(wǎng)格的靈敏度: 基于所述靈敏度,更新所述設(shè)計變量;計算更新設(shè)計變量后的所述目標函數(shù)的目標值,判斷所述目標值是否滿足收斂條件;在滿足所述收斂條件時,將所述設(shè)計區(qū)域作為剪切帶微觀結(jié)構(gòu)輸出;以及在不滿足所述收斂條件時,返回執(zhí)行所述對所述設(shè)計區(qū)域進行有限元分析,計算所述設(shè)計區(qū)域的等效彈性模量的步驟;其中,為所述設(shè)計區(qū)域的等效彈性模量;H表示均勻化;i、j、k和l為等效彈性模量的腳標,表示其在設(shè)計區(qū)域中的區(qū)域位置,i、j、k和l均為正整數(shù);Y為所述設(shè)計區(qū)域的面積,I為3×3的單位矩陣;B為所述設(shè)計區(qū)域的應(yīng)變矩陣;BT表示應(yīng)變矩陣的轉(zhuǎn)置矩陣;u為所述設(shè)計區(qū)域的內(nèi)部位移場;K為所述設(shè)計區(qū)域的剛度矩陣;p1為懲罰因子;Ee,ijkl為第e個網(wǎng)格的彈性模量;表示第e個網(wǎng)格填充材料為第一材料的彈性模量;表示第e個網(wǎng)格填充材料為第二材料的彈性模量;e為1~N的正整數(shù);和為所述設(shè)計區(qū)域的抗拉模量;為所述設(shè)計區(qū)域的剪切模量;w1為抗拉模量的權(quán)重系數(shù);w2為剪切模量的權(quán)重系數(shù);Ce為設(shè)計變量,取值為0或1。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人季華實驗室,其通訊地址為:528200 廣東省佛山市南海區(qū)桂城街道環(huán)島南路28號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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