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龍圖騰網恭喜上海華虹宏力半導體制造有限公司申請的專利一種監測接地電阻以提高芯片測試效率的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114966220B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210605617.0，技術領域涉及：G01R27/20；該發明授權一種監測接地電阻以提高芯片測試效率的方法是由王磊設計研發完成，并于2022-05-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種監測接地電阻以提高芯片測試效率的方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種監測接地電阻以提高芯片測試效率的方法，包括如下步驟：步驟S1，將可調電流源連接至所需測試的接地引腳和某數字輸入口間、斷開相應數字電路的電源端；步驟S2，對電流源設置第一電流值，正向或反向激勵當前測試數字輸入口，記錄數字輸入口的正向電壓或反向電壓；步驟S3，對電流源設置第二電流值，正向或反向激勵數字輸入口，記錄數字輸入口的正向電壓或反向電壓；步驟S4，根據測量結果計算當前測試的總體標準符合率；步驟S5，根據得到的總體標準符合率判斷當前測試是否符合標準，若符合，則輸出測試結果為成功，并進行下一組芯片測試；否則，根據DTD標志位判斷是否返回步驟S3進行DTD測試。

本發明授權一種監測接地電阻以提高芯片測試效率的方法在權利要求書中公布了：1.一種監測接地電阻以提高芯片測試效率的方法，包括如下步驟：步驟S1，將可調電流源連接至所需測試的接地引腳和某數字輸入口間、斷開相應數字電路的電源端；步驟S2，對電流源設置第一電流值，正向或反向激勵當前測試數字輸入口，記錄數字輸入口的正向電壓或反向電壓；步驟S3，對電流源設置第二電流值，正向或反向激勵數字輸入口，記錄數字輸入口的正向電壓或反向電壓；步驟S4，根據步驟S2和步驟S3的測量結果，計算當前測試的總體標準符合率；步驟S5，根據得到的總體標準符合率判斷當前測試是否符合標準，若符合，則輸出測試結果為成功，并進行下一組芯片測試；否則，根據DTD標志位判斷是否返回步驟S3進行DTD測試；其中，于步驟S4中，對每一個芯片計算正向或反向時的電壓比和電壓差，計算電壓比小于第一閾值的芯片個數以及電壓差小于第二閾值的芯片個數，并計算總體標準符合率。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海華虹宏力半導體制造有限公司，其通訊地址為：201203 上海市浦東新區中國(上海)自由貿易試驗區祖沖之路1399號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。