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龍圖騰網恭喜安慶師范大學申請的專利基于良率分項的半導體光電器件非接觸測試裝置及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN117192315B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310506061.4，技術領域涉及：G01R31/26；該發明授權基于良率分項的半導體光電器件非接觸測試裝置及方法是由詹文法;郝凱明;潘盼;章禮華;鄭江云;張慶平;蔡雪原;梁琦;吳兆旺;余儲賢;胡心怡設計研發完成，并于2023-05-05向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于良率分項的半導體光電器件非接觸測試裝置及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了基于良率分項的半導體光電器件非接觸測試裝置及方法，包括位于測試區域的多種測試項，每種測試項有多個，將每種測試項按照良率從小到大排序，每個測試項正對著一個短接裝置，所述短接裝置包括金屬板以及放置于金屬板上方的待測件，待測件的發光面正對測試項的受光方向，每個短接裝置還正對著一個感應線圈，所有短接裝置對應的感應線圈以及脈沖電源串聯連接；本發明的優點在于：考慮測試過程中良率對測試的影響，大大減少測試時間，提高測試效率。

本發明授權基于良率分項的半導體光電器件非接觸測試裝置及方法在權利要求書中公布了：1.基于良率分項的半導體光電器件非接觸測試裝置，其特征在于，包括位于測試區域的多種測試項，每種測試項有多個，將每種測試項按照良率從小到大排序，每個測試項正對著一個短接裝置，所述短接裝置包括金屬板以及放置于金屬板上方的待測件，待測件的發光面正對測試項的受光方向，每個短接裝置還正對著一個感應線圈，所有短接裝置對應的感應線圈以及脈沖電源串聯連接；短接裝置放置在傳送帶上從上料區運行至測試區域，短接裝置包括金屬板以及放置于金屬板上方的待測件，多種測試項位于測試區域，每種測試項有多個，將每種測試項按照良率從小到大排序，當良率最小的那一種測試項所在位置均對應的有一個待測件時，傳送帶停止運行，對待測件進行光學測試，測試完成以后，通過機械臂將待測件轉運到該種測試項對應的等待區進行分bin，分bin完成以后通過機械臂將待測件轉運到下一種測試項繼續進行測試并分bin，一級一級測試并分bin，待測件通過所有種類的測試項測試以后傳輸至下料區；每種測試項的數量的設置方法為：對每種測試項以良率從低到高排序，排序以后每種測試項以標記測試時間，假設為第i種測試項的良率，為第i種測試項的數量，最后一種測試項也即的數量設為1，其他種測試項的數量根據測試時間、良率通過以下方式獲取：若，則，并且當時，；若，則，并且當時，。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人安慶師范大學，其通訊地址為：246133 安徽省安慶市宜秀區集賢北路1318號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。