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龍圖騰網恭喜廣東志慧芯屏科技有限公司申請的專利一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調控方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119578188B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-04發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510138405.X，技術領域涉及：G06F30/23；該發明授權一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調控方法是由吳汝健設計研發完成，并于2025-02-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調控方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調控方法，包括通過建立數學模型和有限元仿真，結合機器學習算法和第一性原理計算，對射線輻照下器件勢壘參數的精確調控，本發明方法包括建立勢壘調控模型、分析測試數據、研究輻照誘導缺陷、在線檢測內部參數、篩選抗輻照材料和優化器件結構，以及建立器件失效機理模型，本發明有效提升器件在輻照環境中的長期可靠性，解決射線輻照引入的缺陷和性能退化問題，為柔性電子器件的發展提供新的技術路徑。

本發明授權一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調控方法在權利要求書中公布了：1.一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調控方法，其特征在于：包括以下步驟：S1、根據柔性電子器件的材料特性和器件結構，建立勢壘調控的數學模型，采用有限元分析方法對勢壘區域進行精細化仿真，獲取器件結構參數與器件性能之間的定量關系模型，所述器件結構參數包括勢壘高度和勢壘寬度，通過向量機算法對定量關系模型進行訓練，得到優化后的勢壘高度和勢壘寬度；S2、利用數學模型和仿真結果，通過機器學習算法對步驟S1獲得的優化后的勢壘高度和勢壘寬度進行挖掘分析，建立輸入為射線能量、劑量、入射角度輻照參數，輸出為器件性能退化量化指標的關聯模型，評估射線輻照對器件性能退化量化指標的影響；S3、基于步驟S2的關聯模型，針對射線輻照引起的材料結構和化學成分改變，采用第一性原理計算和分子動力學模擬方法，獲得缺陷態在禁帶中的位置、濃度分布以及對勢壘高度和寬度的影響；S4、根據步驟S3的計算與模擬，在射線輻照過程中，通過電容-電壓測量、深能級瞬態譜檢測手段對器件的內部勢壘參數進行在線檢測，用于射線輻照過程的控制和勢壘參數的實時反饋調節；S5、根據步驟S3的計算與模擬，采用勢壘調控材料體系，采用第一性原理計算篩選勢壘層材料，利用原子層沉積、分子束外延技術，控制勢壘層的組分和厚度，獲得篩選后的器件結構，篩選后的器件結構用于抑制輻照誘導缺陷的形成；S6、對篩選后的器件結構進行測試，通過正交試驗對輻照劑量、輻照時間、退火溫度的技術參數組合調控，并建立勢壘特性與調控參數之間的映射關系，用于勢壘參數的調控和器件性能的協同優化；S7、根據步驟S3的計算與模擬，建立器件失效機理模型，通過建立多物理場耦合模型，分析不同應力因素對器件性能的影響權重，采用加速壽命試驗和大數據分析方法，用于記錄器件的性能退化數據，包括漏電流、擊穿電壓。

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