買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費(fèi)！專利年費(fèi)監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)恭喜廣東志慧芯屏科技有限公司申請的專利一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調(diào)控方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119578188B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-04發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510138405.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F30/23；該發(fā)明授權(quán)一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調(diào)控方法是由吳汝健設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-02-08向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調(diào)控方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調(diào)控方法，包括通過建立數(shù)學(xué)模型和有限元仿真，結(jié)合機(jī)器學(xué)習(xí)算法和第一性原理計(jì)算，對射線輻照下器件勢壘參數(shù)的精確調(diào)控，本發(fā)明方法包括建立勢壘調(diào)控模型、分析測試數(shù)據(jù)、研究輻照誘導(dǎo)缺陷、在線檢測內(nèi)部參數(shù)、篩選抗輻照材料和優(yōu)化器件結(jié)構(gòu)，以及建立器件失效機(jī)理模型，本發(fā)明有效提升器件在輻照環(huán)境中的長期可靠性，解決射線輻照引入的缺陷和性能退化問題，為柔性電子器件的發(fā)展提供新的技術(shù)路徑。

本發(fā)明授權(quán)一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調(diào)控方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種柔性電子器件電能勢壘控制智能調(diào)控方法，其特征在于：包括以下步驟：S1、根據(jù)柔性電子器件的材料特性和器件結(jié)構(gòu)，建立勢壘調(diào)控的數(shù)學(xué)模型，采用有限元分析方法對勢壘區(qū)域進(jìn)行精細(xì)化仿真，獲取器件結(jié)構(gòu)參數(shù)與器件性能之間的定量關(guān)系模型，所述器件結(jié)構(gòu)參數(shù)包括勢壘高度和勢壘寬度，通過向量機(jī)算法對定量關(guān)系模型進(jìn)行訓(xùn)練，得到優(yōu)化后的勢壘高度和勢壘寬度；S2、利用數(shù)學(xué)模型和仿真結(jié)果，通過機(jī)器學(xué)習(xí)算法對步驟S1獲得的優(yōu)化后的勢壘高度和勢壘寬度進(jìn)行挖掘分析，建立輸入為射線能量、劑量、入射角度輻照參數(shù)，輸出為器件性能退化量化指標(biāo)的關(guān)聯(lián)模型，評估射線輻照對器件性能退化量化指標(biāo)的影響；S3、基于步驟S2的關(guān)聯(lián)模型，針對射線輻照引起的材料結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分改變，采用第一性原理計(jì)算和分子動(dòng)力學(xué)模擬方法，獲得缺陷態(tài)在禁帶中的位置、濃度分布以及對勢壘高度和寬度的影響；S4、根據(jù)步驟S3的計(jì)算與模擬，在射線輻照過程中，通過電容-電壓測量、深能級瞬態(tài)譜檢測手段對器件的內(nèi)部勢壘參數(shù)進(jìn)行在線檢測，用于射線輻照過程的控制和勢壘參數(shù)的實(shí)時(shí)反饋調(diào)節(jié)；S5、根據(jù)步驟S3的計(jì)算與模擬，采用勢壘調(diào)控材料體系，采用第一性原理計(jì)算篩選勢壘層材料，利用原子層沉積、分子束外延技術(shù)，控制勢壘層的組分和厚度，獲得篩選后的器件結(jié)構(gòu)，篩選后的器件結(jié)構(gòu)用于抑制輻照誘導(dǎo)缺陷的形成；S6、對篩選后的器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測試，通過正交試驗(yàn)對輻照劑量、輻照時(shí)間、退火溫度的技術(shù)參數(shù)組合調(diào)控，并建立勢壘特性與調(diào)控參數(shù)之間的映射關(guān)系，用于勢壘參數(shù)的調(diào)控和器件性能的協(xié)同優(yōu)化；S7、根據(jù)步驟S3的計(jì)算與模擬，建立器件失效機(jī)理模型，通過建立多物理場耦合模型，分析不同應(yīng)力因素對器件性能的影響權(quán)重，采用加速壽命試驗(yàn)和大數(shù)據(jù)分析方法，用于記錄器件的性能退化數(shù)據(jù)，包括漏電流、擊穿電壓。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人廣東志慧芯屏科技有限公司，其通訊地址為：523000 廣東省東莞市東城街道東科路21號5棟101室；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。