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龍圖騰網恭喜北京航空航天大學申請的專利基于CPT磁強計的磁場矢量測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118091506B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-01發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202410101149.2，技術領域涉及：G01R33/032；該發明授權基于CPT磁強計的磁場矢量測量方法是由杜鵬程;李心志;楊飛帆;李進設計研發完成，并于2024-01-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于CPT磁強計的磁場矢量測量方法在說明書摘要公布了：基于CPT磁強計的磁場矢量測量方法，采用雙光束方案，使用伺服電機對偏振角度進行精準調控，通過觀察色散信號實現對磁場方向進行測量。作為CPT矢量磁強計的探頭部分，將受調制的垂直腔面發射激光器所產生的多色光輸入氣室，得到攜帶磁場信息的光信號經過鎖相放大器調制解調后獲得多個色散信號，通過每個色散信號可以分析CPT信號的狀態，其中色散信號的過零點與CPT峰處在同一頻率，色散信號的幅值越大，可以說明CPT峰幅值越大。本發明基于磁場B與波矢k、偏振e的夾角對CPT峰幅值影響的基本原理，對磁場進行矢量測量。本發明優勢在于能夠測定磁場方向，并能有效避免由于特定夾角導致靈敏度下降的問題。本發明有較強的延拓適用性與較高的實用價值。

本發明授權基于CPT磁強計的磁場矢量測量方法在權利要求書中公布了：1.基于CPT磁強計的磁場矢量測量方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟1，啟動CPT磁強計系統，使其產生多色激光，所述多色激光通過偏振分束棱鏡形成第一束光和第二束光，所述第一束光依次經過第一偏振片和第一半波片后沿x軸正向通過堿金屬氣室以形成攜帶磁場信息的第一束光信號進入鎖相放大器第一輸入端，所述第二束光依次經過第一反射鏡、第二反射鏡、第二偏振片和第二半波片后沿z軸負向通過堿金屬氣室以形成攜帶磁場信息的第二束光信號進入鎖相放大器第二輸入端；步驟2，鎖相放大器針對第一束光信號進行解調得到色散信號，根據色散信號的過零點與CPT信號的峰值點頻率相一致的磁場測量原理，獲得磁敏感色散信號；步驟3，通過旋轉第一半波片調整第一束光的偏振方向e，通過觀察色散信號的振蕩幅值的變化情況得到CPT信號峰幅值的大小變化情況，保持波矢k固定，追蹤CPT信號峰幅值極大值；定義n＝k×B，B是外界磁場或待測磁場，n是法向量，由于k⊥n，偏振方向e通過旋轉半波片進行調節，當信號振幅得到極大值時則e||n，由此通過第一束光得到磁場B所在的第一平面，即以n為法向量且通過波矢k的平面；步驟4，用以下關系式確定磁場標量大小：Δν＝γ|B|其中Δv是色散信號過零點之間的頻率差即兩CPT峰之間的光頻率差，B是磁場大小，γ是旋磁比；步驟5，返回步驟2，通過鎖相放大器用處理第一束光信號類似的方式針對第二束光信號進行處理，通過第二束光得到磁場B所在的第二平面，第一平面與第二平面交線即為磁場B的方向。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京航空航天大學，其通訊地址為：100191 北京市海淀區學院路37號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。