恭喜上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司蔣衛(wèi)兵獲國家專利權
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龍圖騰網(wǎng)恭喜上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司申請的專利一種芯片測試裝置獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予,授權公告號為:CN109459683B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-03-21發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:201811604418.8,技術領域涉及:G01R31/28;該發(fā)明授權一種芯片測試裝置是由蔣衛(wèi)兵;王堅設計研發(fā)完成,并于2018-12-26向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。
本一種芯片測試裝置在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及測試技術領域,公開一種芯片測試裝置,包括測試座組件、加熱組件、測溫組件和控制器,其中,測試座組件包括固定板組件和導通件;加熱組件部分設置在固定板組件中;測溫組件可滑動地穿設在加熱組件中,且能夠與芯片相接觸以測量芯片的溫度;外設控制器與測試座組件間隔設置,且與加熱組件和測溫組件電連接,外設控制器包括顯示模塊,用于輸入預設溫度和顯示溫度測量結果。本發(fā)明提供的芯片測試裝置,外設控制器和顯示模塊均在常溫下工作,延長了外設控制器和顯示模塊的使用壽命,并且在測試過程中可以調(diào)整預設溫度,提高了溫度控制的靈活性;另外,測溫組件可以實現(xiàn)對芯片溫度的直接測量,提高了測量的準確性。
本發(fā)明授權一種芯片測試裝置在權利要求書中公布了:1.一種芯片測試裝置,其特征在于,包括:測試座組件1,包括固定板組件11和導通件12,芯片10設置于所述固定板組件11中,并通過所述導通件12與外部測試電路導通;加熱組件2,部分設置在所述固定板組件11中,用于對所述芯片10加熱,所述加熱組件2包括加熱體21和傳熱體22,所述加熱體21可拆卸地穿設在所述傳熱體22中;測溫組件3,可滑動地穿設在所述加熱組件2中,且能夠與所述芯片10相接觸以測量所述芯片10的溫度,所述測溫組件3包括溫度傳感器31,所述加熱組件2上開設有測試孔,所述溫度傳感器31可滑動地設置于所述測試孔中,且所述溫度傳感器31能夠穿過所述測試孔與所述芯片10接觸;外設控制器4,與所述測試座組件1間隔設置,且與所述加熱組件2和所述測溫組件3電連接,所述外設控制器4包括顯示模塊,用于輸入預設溫度和顯示溫度測量結果;所述測溫組件3還包括彈性件32和套筒33,所述套筒33固定于所述測試孔中,所述溫度傳感器31的一端可滑動地穿設于所述套筒33中,所述溫度傳感器31上設置有凸緣,所述彈性件32套設在所述溫度傳感器31上,且所述彈性件32的一端與所述套筒33的端面抵接,所述彈性件32的另一端與所述凸緣抵接。
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