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龍圖騰網恭喜上海捷策創電子科技有限公司申請的專利一種芯片測試裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN109459683B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201811604418.8，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種芯片測試裝置是由蔣衛兵;王堅設計研發完成，并于2018-12-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種芯片測試裝置在說明書摘要公布了：本發明涉及測試技術領域，公開一種芯片測試裝置，包括測試座組件、加熱組件、測溫組件和控制器，其中，測試座組件包括固定板組件和導通件；加熱組件部分設置在固定板組件中；測溫組件可滑動地穿設在加熱組件中，且能夠與芯片相接觸以測量芯片的溫度；外設控制器與測試座組件間隔設置，且與加熱組件和測溫組件電連接，外設控制器包括顯示模塊，用于輸入預設溫度和顯示溫度測量結果。本發明提供的芯片測試裝置，外設控制器和顯示模塊均在常溫下工作，延長了外設控制器和顯示模塊的使用壽命，并且在測試過程中可以調整預設溫度，提高了溫度控制的靈活性；另外，測溫組件可以實現對芯片溫度的直接測量，提高了測量的準確性。

本發明授權一種芯片測試裝置在權利要求書中公布了：1.一種芯片測試裝置，其特征在于，包括：測試座組件1，包括固定板組件11和導通件12，芯片10設置于所述固定板組件11中，并通過所述導通件12與外部測試電路導通；加熱組件2，部分設置在所述固定板組件11中，用于對所述芯片10加熱，所述加熱組件2包括加熱體21和傳熱體22，所述加熱體21可拆卸地穿設在所述傳熱體22中；測溫組件3，可滑動地穿設在所述加熱組件2中，且能夠與所述芯片10相接觸以測量所述芯片10的溫度，所述測溫組件3包括溫度傳感器31，所述加熱組件2上開設有測試孔，所述溫度傳感器31可滑動地設置于所述測試孔中，且所述溫度傳感器31能夠穿過所述測試孔與所述芯片10接觸；外設控制器4，與所述測試座組件1間隔設置，且與所述加熱組件2和所述測溫組件3電連接，所述外設控制器4包括顯示模塊，用于輸入預設溫度和顯示溫度測量結果；所述測溫組件3還包括彈性件32和套筒33，所述套筒33固定于所述測試孔中，所述溫度傳感器31的一端可滑動地穿設于所述套筒33中，所述溫度傳感器31上設置有凸緣，所述彈性件32套設在所述溫度傳感器31上，且所述彈性件32的一端與所述套筒33的端面抵接，所述彈性件32的另一端與所述凸緣抵接。

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